2013年1月2日星期三

光学扫描测量精度的影响因素及对策分析



差主要表形式
1)采集据缺失或据密度不到要求。用这种不完整的行点云合,大,到要求的量精度。
2同一表面的据采集果表现为点云。这种往往出于被测对大型工件或工件透明物体
3幅采集据不准确,影整体量精度。
4)累积误大,使果出偏差。
5)点云错误差。
6果中粗大点(噪音)多。
3 差原因分析及提高精度的
    实际工作经验,通过测试分析,将产差的主要原因归纳为定不尺使用不测头镜头组选择;序不量策略选择;工件表面志点安放不程中操作不;工件被表面预处理不;后理不选择等,分析如下:
1定不尺使用不
测头)由光源、CCD像机及相镜头组构成。在行点云据采集之前,首先需要对测头进行初始化,主要容包括:
①根据被测对象的大小、表面特征的多少及其复杂程度选择不同的镜头组合;②根据现场条件、被测对象的表面形及表面理情确定主光源的光强;③根据系统标准工作流程定的镜头组定,使定精度0.020
如果量之前未行上述工作,而是直接使用以前定的测头进量,可能因镜头组合、光源光强、定精度不符合本次量要求而无法保证测量精度,差。
    量中,如果因操作失而使测头受到冲撞,时对测头进检查,如已坏,要行修理;如未坏,也必须对测头进行重新定;即使量中未生任何操作失,但如果时间较长,也需定时对测头进行快速检查测头的精度状况
尺是大型工件据采集利用数码像机工件上的标识行定位的必工具,所使用尺上的准尺寸应与实际利用照片示的尺寸数值一致。
2测头镜头组选择
采集大型工件表面点云应选量范围较大的镜头组合,以实现总据的快速采集;于其中部分特征多、小的域,最好量范围较小的镜头组合再行局部小特征的突出量,以好的量效果。
    于大型工件,如选择测量范围较小的镜头组量,要求工件表面有多用于点云接的标识点,工件预处时间,加大时间跨度,因随时间变化引起的差就反映到果中,且个测量效率。如果用数码像机工件上的标识行定位,动进接,标识数较多、出现标识点之间关系相同的大,容易错误;如果不用数码相机工件上的标识行定位,相邻单幅点云之利用共同标识接,由于接次数较多,也会产接累积误大的象。
    反之,于小型工件,如果选择测量范围较大的镜头组量,无法准确反映工件上的小特征,使不到要求的精度,需要重新更合适的镜头组合,重新定和量。
3序不
序是指邻单序。以量一个细长工件例,1,2,3,4,5所示矩形为当测头量范所示排列方式量工件,首先量工件中位置,完成中1幅的量后,再量第2幅,然后利用三共同的志点21合,此时会产生一个拼差。同,第32幅之间进,也会产生一个拼差。假所有的差大小相同,1,2,3间产生的累积误281,4,5间产生的累积误差也28示,1,2,3的累积误1,4,5的累积误不形成系,因此的累积误差仍28。如按2所示的序排列方式量工件,最大累积误48。因此,时应尽可能采用“以中心基准,排列”的序,以小累积误差。



4量策略选择
     应将工件按大型工件、中型工件、小尺寸多特征工件、腔工件等行分于每工件采取不同的量策略。
量大型工件,可首先用数码像机对标识体定位,然后选择个单量范围较大的镜头组量;如工件尺寸大,可分量,然后利用共同的考点合;如大尺寸工件中存在多的局部小特征,可在量基本完成后,再用一组测量范围较小的镜头组行局部量。便于小范围测量的自动拼合,对该局部预处时应增加考点的密度。
    量中、小型工件注意采用正确的序,以少累积误差。实际上,中、小型工件也可以采用大尺寸工件的量策略,但必用于对参考点体定位的数码像机及关软件。
量工件腔表面克服光学扫设备的景深限制,可采取一些技手段将内外型量,如可注人工件腔中,待其凝固后取出,其外型量。
5)工件表面志点安放不
    不管是大型工件是中、小型工件的量,都遇到工件表面志点的安放问题
    大型工件的据采集一般需要使用尺和数码像机,量可分:第一步,利用大的数码用于量点云合的志点行整体造,正常量用的志点点云,必遵循1所示的排列规则;第二步,以志点点云作为参考系,系统会将测得的每个单幅点云中的志点已有考点云中的志点行比,如二者吻合,动进合,两个邻单幅点云之不必再有重部分。也可量,但前提是每个单幅点云都必包含至少三个标志点,此测区域适贴标志点,否则会造成量困或使量精度下降。
中型工件的志点粘贴与大型工件有所不同,由于相邻两幅点云的自(或手工)合需要根据相邻单幅点云的共同志点完成,因此中型工件的志点粘密度大于大型工件,否则难实现邻两幅点云的合。
    由于小型工件志点的安放不同程度地掩盖工件上的特征,因此工件表面应尽量少或不贴标志点,以完整的据。
此外,一般应将标志点粘在工件上平整的位置,以对标志点点云缺的度及相差。
6程中操作不
    程中,注意以下操作要点:
测头方位,使被部位同位于两个测头量范
整主光源的光强,分别调标识点和工件表面的晰度,使量部位的标识点及工件表面到最晰程度;
程中应尽量避免对测头的冲撞。如不慎发这种时对测头进检查和重新定,以保持后续测量的精度,否会显量部件据缺失,甚至使量完全无法继续进行。
7)工件被表面预处理不
    量前,需要工件表面行适预处理。如果工件形十分简单,且工件尺寸小,通过单量即可完成据采集,只需使工件表面能在主光源照射下形成漫反射即可。但通常情下,仅仅过单量很完成完整工件的据采集,且一般的工件表面在主光源照射下也很形成符合量要求的漫反射,因此必在工件表面预设一些考点,利用共同的考点各次合,用着色剂对工件表面行均匀喷理,使工件表面形成理想的漫反射。
工件表面预处理不主要指:
①工件表面某些部位反光强或吸光多,不能形成适合描要求的漫反射,致无法形成有效的点云,部位据缺失;
②缺乏足考点,致无法合,即使能形成点云,也只是分散点云而不是整体点云;
③工件表面考点的粘一致性太强,缺少特点,使系无法有效识别单幅点云的合位置,而容易错误以形成被工件的整体点云。
    工件被表面预处理不当还包括未工件表面不能正确反映设计的部分行修正、工件表面在量中被碰伤而未及、工件安放状态(如工件受力)等非量因素。此外,在工件(发动)行硅注射以形成模型,注射量不足或硅多也使形成的模型不能正确反映工件实际
8)后理不
    在光学扫量中,量所得据即点云据,实际上是形成工件影像的程,要得点云据,需利用形成的影像行后理。于用幅点云合生成的果,首先需要利用几共同的标识所有的对齐,以少累积误;然后利用对齐后的点云行重算,影像转换为点云据。此的点云据可能存在密度不均、粗大差点多等问题,可再经过三角格化(Polygonize),最终获好的点云据。
    然,后理不仅仅包括上述容。在实际测量中,得的据点不一定只局限于所测实物模型,一些不模型的、境中的机点也被同时测人,因此在行后去除些不需要的点,以小其后在基于点云行三CAD模型时产错误的可能性。
    此外,后包括点云的理。在一个实物反求点云中,工件各部位的精度要求非完全相同,因此,一些不太重要的部位可作降低点云密度的理;一些比重要的部位可提高其点云密度。这样能保模型造的精度要求,而且可大大提高建模效率。
    然,后理不仅仅包括上述容。在实际测量中,得的据点不一定只局限于所测实物模型,一些不模型的、境中的机点也被同时测人,因此在行后去除些不需要的点,以小其后在基于点云行三CAD模型时产错误的可能性。
    此外,后包括点云的理。在一个实物反求点云中,工件各部位的精度要求非完全相同,因此,一些不太重要的部位可作降低点云密度的理;一些比重要的部位可提高其点云密度。这样能保模型造的精度要求,而且可大大提高建模效率。


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